Grigori Grabovoi è dottore in scienze fisiche e matematiche, accademico, autore della scoperta del campo creativo dell’informazione e di opere uniche sulla previsione di eventi futuri, sul loro controllo e sulla loro correzione; è autore delle dottrine sulla salvezza globale e sullo sviluppo armonioso.

Grigori Grabovoi è autore di numerosi lavori scientifici e articoli. Uno di questi lavori, intitolato “Ricerca e analisi delle definizioni fondamentali dei sistemi ottici nella protezione civile e nel controllo dei microprocessi orientati alle previsioni”, è stato pubblicato nel 1999 in lingua russa sulla rivista russa “Microelectronics”.

Di seguito trovate la prima parte dell'articolo.

“Ricerca e analisi delle definizioni fondamentali dei sistemi ottici nella protezione civile e nel controllo dei microprocessi orientati alle previsioni”

Redatto in russo da Grigori Grabovoi nel 1999.

Di seguito troverete una brevissima introduzione a questo lavoro, oltre ad alcune informazioni scientifiche aggiuntive elaborate da Grigori Grabovoi.

Urgenza

L’urgenza di questo lavoro risiede nel fatto che, ai fini della protezione civile e della previsione di fenomeni catastrofici, sono stati elaborati una teoria fisico-matematica e uno strumento che consentono di determinare la componente informativa relativa agli eventi futuri. Poiché molti fenomeni catastrofici, sia di origine naturale che antropica, si verificano senza una base statistica o deterministica, il presente lavoro riveste particolare urgenza in virtù delle scoperte volte a ottenere informazioni precise sul futuro, che comprendono i metodi di prevenzione delle catastrofi.

Il lavoro applica i principi delle tecnologie teoriche e strumentali, basati sul postulato di un nesso comune tra tutti gli elementi della realtà. L’autore del lavoro ha definito il metodo strutturo-analitico per la costruzione di sistemi di controllo, in cui ogni elemento svolge la funzione di favorire lo sviluppo armonioso di tutti gli elementi della realtà. Il lavoro descrive il metodo per l’assorbimento di una sostanza. Il metodo si basa sull’isolamento della materia mediante l’applicazione del meccanismo di controllo dell’ambito degli eventi futuri. Questa tecnologia consente di organizzare i singoli impulsi di controllo del presente nei cristalli in modo tale da ottenere la sostanza desiderata in un punto preciso dello spazio e del tempo futuri.

Oggetto dell'indagine: terremoti, impianti industriali, qualsiasi situazione con parametri noti o sconosciuti.

Il novità scientifica Questa ricerca comprende:

  • il metodo di isolamento delle informazioni relative a eventi futuri (applicato per la prima volta sia in teoria che nella pratica); ;
  • il metodo di controllo di un qualsiasi oggetto informativo, che avviene nel momento stesso in cui si ricevono le informazioni relative alle proprietà dell'oggetto (implementato per la prima volta);
  • il principio del controllo preciso di oggetti reali le cui proprietà non sono note o non possono essere determinate in tempo utile (anch’esso implementato).

Il significato teorico Il lavoro comprende:

  • definizioni fondamentali dei sistemi ottici;
  • Generalizzazioni e conseguenze delle definizioni;
  • lo sviluppo di tecnologie di analisi strutturale finalizzate alla prevenzione e alla previsione delle catastrofi, in particolare quelle che minacciano il mondo intero.

Il significato pratico la ricerca comprende:

  • Realizzazione di un dispositivo per la prevenzione e la previsione di terremoti e catastrofi negli impianti industriali e introduzione di una nuova tendenza nella gestione dei microprocessi; il dispositivo si basa sui metodi di modellazione al computer della forma digitalizzata di un oggetto,
  • Trasmissione del risultato a un oggetto informativo a scelta,
  • il rispetto dei principi metodologici alla base della progettazione di sistemi artificiali in armonia con qualsiasi ambiente.

INFORMAZIONI SULLA RIVISTA SPECIALISTICA

La rivista “Microelectronics” è stata fondata nel 1965. La pubblicazione è stata ripresa nel 2014 con il titolo “Electronic engineering. Serie 3. Microelettronica”. Si occupa degli aspetti tecnologici, fisici e circuitali della microelettronica e della nanoelettronica. Particolare attenzione è riservata alle nuove tendenze nella litografia (ottica, a raggi X, elettronica, ionica), nell’incisione, nel drogaggio, nella deposizione e nella planarizzazione per scale submicroniche e nanometriche. Un'attenzione particolare è rivolta alle tecnologie al plasma, all’epitassia a fascio molecolare e all’incisione a secco, nonché ai metodi di analisi e controllo delle superfici e delle strutture multistrato. Il programma prevede discussioni sulla modellizzazione e la diagnostica dei processi tecnologici in tempo reale, nonché contributi sui dispositivi a semiconduttori basati su nuovi fenomeni fisici quali gli effetti di scala quantistica e la superconduttività. Questa ricerca si concentra su eterostrutture, nanotransistor e dispositivi a stato solido, bit quantistici (qubit). Vengono affrontati problemi relativi all’analisi e alla sintesi di circuiti elettronici in transistor bipolari e a effetto di campo, in particolare circuiti CMOS e BiCMOS. La rivista si rivolge a esperti di istituti di ricerca, università e laboratori industriali, nonché a dottorandi.

I temi Aree tematiche principali della rivista:

  • Fenomeni fisici, calcolo e progettazione di dispositivi a semiconduttore;
  • Sviluppo di dispositivi a semiconduttore e di tecnologie di produzione;
  • Tecnica di montaggio;
  • Tecnologia e strumenti di misura specifici per la produzione di dispositivi a semiconduttore;
  • Proprietà dei materiali utilizzati nella produzione di dispositivi a semiconduttore e loro interazione con i parametri dei dispositivi, il fattore di scala e gli standard tecnologici;
  • Parametri di misura e metodi;
  • Controllo di qualità e affidabilità;
  • Modellizzazione matematica applicata alla microelettronica e alla nanoelettronica;
  • Applicazioni, redditività e organizzazione della produzione di dispositivi a semiconduttore.

Il Titoli principali sono:

  1. Fenomeni fisici
  2. Sviluppo e progettazione
  3. Economia e organizzazione della produzione
  4. Processo e tecnologia
  5. Proprietà dei materiali
  6. Dotazioni tecnologiche e strumentazione di misura
  7. Modellizzazione matematica
  8. Affidabilità
  9. Lavori degli studenti

La rivista viene pubblicata in formato cartaceo in lingua russa, con titoli e abstract in lingua inglese, e dispone inoltre di una versione elettronica dell’indice di tutti i numeri pubblicati nel 2014 e degli abstract contenuti in tali articoli, disponibili in accesso aperto sul sito web della rivista https://www.niime.ru/en/science/129-j-microelectronics/ e della biblioteca elettronica nazionale http://elibrary.ru/defaultx.asp saranno presentati.